三大儀器商巨頭，共話 PCIe/USB/DP/TBT的演進與測試

2020年歲末，安立聯合泰克、GRL參與相關協會的專家及專業的測試工程師，在線上和大家一起共話PCIe/USB/DP/TBT的演進與測試，同時開啟了2021高速接口測試信息分享與交流的序幕。

如今，數據傳輸需求的不斷提升，加快了數據接口換代進程，應用于服務器/存儲的PCIe接口正從PCIe3.0向PCIe4.0和5.0的過渡，而同步于高速互連的PCIe6.0的規范也在制定中；同時應用于消費電子的USB/DP/TBT等接口也在不斷的進化和融合。 

如何面對這些接口的演進以及驗證方面的挑戰？12月22號，安立、泰克和GRL三家技術專家聯手，與業內工程師共話 PCIe/USB/DP/TBT的演進與測試。本次會議由安立公司業務拓展經理趙雁飛主持，泰克PCI-SIG協會專家David更新了PCIe發展的最新信息以及包括SNDR等的一些測試要點；GRL產品方案總監陳昀介紹了USB/DP/TBT的融合演進以及最新認證測試的要求和流程；泰克中國區的資深工程師曹福享結合泰克的高性能示波器，分享了PCIe5.0發端的測試區別、測試要點以及USB/DP/TBT發端的測試方案；安立應用工程師范鐸結合自身在測試方面的豐富經驗，重點介紹了PCIe的收端測試要求以及USB/TBT和DP的測試方案。

會議持續了近兩個小時的時間，100多位專業人士參與了本次的會議并積極提問交流。為了感謝各位的參與，Anritsu公司會后提供了參與問卷調查的抽獎獎品，同時本次演講的視頻會放到三家的微信公眾號上供大家會后觀看。

自合作以來，安立（誤碼儀/矢量網絡分析儀供應商）, 泰克（實時示波器供應商）和GRL（校準和測試軟件供應商）三方各自發揮自己的優勢，在高速接口市場上取得了積極的進展。后續三方會繼續努力，在高速接口測試市場為大家提供更為高效和及時的測試方案和測試服務。